布魯克Bruker ContourGT-X 三維光學顯微鏡
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簡介：布魯克Bruker ContourGT-X 三維光學顯微鏡為實驗室研究和生產工藝控制提供最佳性能的非接觸式表面計量方案。X3和X8型號集十代白光干涉技術設計之大成，成為市場上三維光學輪廓儀在測量速度、分辨率、重復性、準確性等性能上最優(yōu)和大批...
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布魯克Bruker ContourGT-X 三維光學顯微鏡為實驗室研究和生產工藝控制提供最佳性能的非接觸式表面計量方案。X3和X8型號集十代白光干涉技術設計之大成，成為市場上三維光學輪廓儀在測量速度、分辨率、重復性、準確性等性能上最優(yōu)和大批量生產中效率最佳的選擇。布魯克Bruker ContourGT-X 三維光學顯微鏡的獨特優(yōu)勢包括以下幾點：可快速方便定位的電動X、Y、Z平臺和電動測量頭部傾斜裝置；集成式防震臺與特殊設計的基座提供優(yōu)異的抗震性能；業(yè)界率先推出基于64位的Vision64軟件使用戶更方便地分析各種應用數據，廣泛應用于眼科材料，醫(yī)療器械，精密機械加工零件，太陽能電池，高亮度LED和半導體器件等的各種材料的表面測量。
此外，布魯克Bruker ContourGT-X 三維光學顯微鏡獨特的雙LED光源設計（專利）配合0.5x到230x的放大倍數保證了優(yōu)異的測試質量。布魯克Bruker ContourGT-X 三維光學顯微鏡激光自動校準（專利）保證了測量的準確性，重復性以及多臺機機器同時使用時的一致性。Vision64的64位軟件架構與多核處理器結合將測量復雜表面的測量分析速度提高了10倍。通過數千張單幅掃描的數據的一次拼接可實現(xiàn)連續(xù)大面積高分辨的圖片。AcuityXR功能打破了光學分辨極限，可分辨出小于130nm的特征尺寸。Vision64軟件的圖形化界面進一步提升了用戶的易用性，同時也為獲得的更加廣泛的數據提供了更有效地分析功能。
如果您需要布魯克Bruker ContourGT-X 三維光學顯微鏡及布魯克品牌儀器、或者其他品牌儀器，均可聯(lián)絡我司銷售部門：0731-84284278 84284378。
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