關(guān)于我們
湖南省長(zhǎng)沙市開福區(qū)車站北路湘域智慧南塔
0731-84284278
0731-84284278
service@hncsw.net
0731-84284278
布魯克Bruker ContourGT-K 三維光學(xué)顯微鏡
名稱：其他儀器與工具
品牌：
型號(hào)：
簡(jiǎn)介：布魯克Bruker ContourGT-K 三維光學(xué)顯微鏡提供最全面的表面測(cè)量與成像技術(shù)，性能卓越、操作簡(jiǎn)便的桌上型三維光學(xué)顯微鏡，布魯克Bruker ContourGT-K 三維光學(xué)顯微鏡完善了表面測(cè)量和分析的新標(biāo)準(zhǔn)，這套測(cè)量系統(tǒng)擁有工業(yè)...
申請(qǐng)服務(wù)
- 產(chǎn)品介紹
布魯克Bruker ContourGT-K 三維光學(xué)顯微鏡提供最全面的表面測(cè)量與成像技術(shù)，性能卓越、操作簡(jiǎn)便的桌上型三維光學(xué)顯微鏡，布魯克Bruker ContourGT-K 三維光學(xué)顯微鏡完善了表面測(cè)量和分析的新標(biāo)準(zhǔn)，這套測(cè)量系統(tǒng)擁有工業(yè)領(lǐng)先的測(cè)量性能和靈活性，采用專利白光干涉技術(shù)，超大視野內(nèi)埃級(jí)至毫米級(jí)的垂直計(jì)量范圍，具有業(yè)界最高的垂直分辨率和測(cè)量重復(fù)性。憑借其獨(dú)特的直觀用戶界面和功能最全的自動(dòng)化檢測(cè)、分析功能，方便用戶快速高效的獲得材料粗糙度、二維/三維表面分析以及高分辨成像，廣泛應(yīng)用于LED、太陽能電池、薄膜材料、MEMS、精密機(jī)械零部件、摩擦磨損等各個(gè)領(lǐng)域，滿足各種表面測(cè)量的實(shí)際需求。布魯克Bruker ContourGT-K 三維光學(xué)顯微鏡集三十年表面測(cè)量技術(shù)之大成，將創(chuàng)新技術(shù)與業(yè)界測(cè)量經(jīng)驗(yàn)完美融合到一套非接觸式表面測(cè)量系統(tǒng)上，憑借低噪音、高速度、高分辨精確測(cè)量，滿足各類測(cè)試需求。任意選擇不同的放大倍率，在極寬的測(cè)量范圍內(nèi)，對(duì)樣品表面形狀和紋理進(jìn)行表征，在任何倍率下，從亞納米級(jí)到超過10毫米級(jí)垂直測(cè)量量程提供了無與倫比的測(cè)量靈活性，是當(dāng)今生產(chǎn)研究和質(zhì)量控制檢測(cè)的最佳選擇。
布魯克Bruker ContourGT-K 三維光學(xué)顯微鏡提高表面測(cè)量和分析速度，布魯克Bruker ContourGT-K 三維光學(xué)顯微鏡測(cè)試系統(tǒng)上，用戶可自定義分析選項(xiàng)，多核處理器和Vision64®軟件將數(shù)據(jù)處理、分析速度提高十倍，大大提高測(cè)試效率。同時(shí)完善了軟件和硬件功能，人性化的工作流程、頂尖的光學(xué)測(cè)試系統(tǒng)、高性價(jià)比的檢測(cè)平臺(tái)，使其成為桌上型三維光學(xué)顯微鏡的最佳選擇。除了標(biāo)準(zhǔn)配置的各種檢測(cè)功能，客戶還可以自定義測(cè)試方案，選擇各類各級(jí)配件或特殊測(cè)試模塊：全自動(dòng)X、Y、Z樣品臺(tái)；NanolensTM AFM模塊；特殊應(yīng)用測(cè)試軟件。
如果您需要布魯克Bruker ContourGT-K 三維光學(xué)顯微鏡及布魯克品牌儀器、或者其他品牌儀器，均可聯(lián)絡(luò)我司銷售部門：0731-84284278 84284378。
最新產(chǎn)品
相關(guān)產(chǎn)品
