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馬爾文Malvern Zetasizer納米 Z ZETA電位分析儀
名稱(chēng)：物性分析測(cè)試儀器
品牌：
型號(hào)：
簡(jiǎn)介：馬爾文Malvern Zetasizer納米 Z ZETA電位分析儀利用激光多普勒電泳技術(shù)，專(zhuān)注于水性及非水性分散劑中ZETA電位及電泳遷移率的測(cè)量。 馬爾文Malvern Zetasizer納米 Z ZETA電位分析儀在無(wú)需粒度或分子量測(cè)...
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- 產(chǎn)品介紹
馬爾文Malvern Zetasizer納米 Z ZETA電位分析儀利用激光多普勒電泳技術(shù)，專(zhuān)注于水性及非水性分散劑中ZETA電位及電泳遷移率的測(cè)量。
馬爾文Malvern Zetasizer納米 Z ZETA電位分析儀在無(wú)需粒度或分子量測(cè)量的情況下，Zetasizer Nano Z是測(cè)量膠體及納米顆粒ZETA電位及電泳遷移率的理想系統(tǒng)。
Zeta電位，采用專(zhuān)利型M3-PALS 技術(shù)。
"質(zhì)量因子"及"專(zhuān)家診斷系統(tǒng)"尤如專(zhuān)家伴隨您的左右，使您成竹在胸。
21CFR軟件選項(xiàng)可實(shí)現(xiàn)ER/ES合規(guī)性。
科研級(jí)軟件選項(xiàng)，為光散射專(zhuān)家提供了高級(jí)運(yùn)算法則的。
使用自動(dòng)滴定儀選件進(jìn)行自動(dòng)測(cè)量。
馬爾文Malvern Zetasizer納米 Z ZETA電位分析儀可選激光器，50mW，532nm，用于不適合標(biāo)準(zhǔn)型633nm激光器的樣品。
光學(xué)濾波片，改善熒光樣品的測(cè)量。
溫度范圍最高可達(dá)120ºC。
Zetasizer Nano Z 采用微電泳/電泳光散射技術(shù)測(cè)量ZETA電位及電泳淌度，激光多普勒微量電泳法可用于測(cè)量ZETA電位。 分子和顆粒在施加的電場(chǎng)作用下做電泳運(yùn)動(dòng)，其運(yùn)動(dòng)速度和Zeta電位直接相關(guān) 使用專(zhuān)利型激光相干技術(shù) M3-PALS （相位分析光散射法）檢測(cè)其速率。 從而實(shí)現(xiàn)電泳遷移率的計(jì)算，并得出ZETA電位及ZETA電位的分布。
該軟件的設(shè)計(jì)旨是不影響使用簡(jiǎn)便性的情況下實(shí)現(xiàn)功能特點(diǎn)的豐富多樣。 標(biāo)準(zhǔn)操作程序（SOP） 可簡(jiǎn)化常規(guī)測(cè)量，質(zhì)量因子可對(duì)數(shù)據(jù)質(zhì)量進(jìn)行確認(rèn)，專(zhuān)家診斷系統(tǒng)則可為數(shù)據(jù)說(shuō)明提供協(xié)助。
選項(xiàng)MPT-2自動(dòng)滴定儀可對(duì)pH值、電導(dǎo)率或任何添加劑中的變化影響進(jìn)行自動(dòng)化研究。
一系列可拋棄性以及可重復(fù)使用的樣品池，可對(duì)優(yōu)化不同樣品體積、濃度以及流量方面的需求,其它選件包括可改善熒光樣品測(cè)量的濾波器，溫度范圍高達(dá)120ºC，以及一個(gè)粘度計(jì)，用于確定樣品粘度達(dá)到技術(shù)要求的精確性。
馬爾文Malvern Zetasizer納米 Z ZETA電位分析儀技術(shù)指標(biāo)：
ZETA 電位：
測(cè)量范圍：:3.8nm - 100 微米*（直徑）。測(cè)量原理：:電泳光散射法最小樣品容積：:150µL （20µL ，采用擴(kuò)散障礙法）精確度:0.12µm.cm/V.s，針對(duì)水性系統(tǒng)，采用NIST SRM1980標(biāo)準(zhǔn)參考物質(zhì)。靈敏度:10mg/mL （BSA）溫度控制范圍:0°C - 90°C +/-0.1**, 120°C 選裝。.光源:He-Ne 激光器 633nm，最大 4mW。激光安全：:1類(lèi)電源功率:100VA
重量與尺寸：
尺寸 （寬, 長(zhǎng), 高）：:320mm, 600mm, 260mm（W,D,H）重量:21 kg
運(yùn)行環(huán)境：
Operating temperature (°C):10°C – 35°C濕度：:35% - 80%無(wú)冷凝
備注：
*:最大范圍，以樣品為準(zhǔn)。**:25°C條件下。專(zhuān)利:Determination in a Dip Cell WO2012172330
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