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GE USM-33 超聲探傷儀
名稱：超聲波探傷儀
品牌：
型號：
簡介：GE USM 33 超聲探傷儀采用雙晶探頭檢測受腐蝕工件的壁厚，GE USM 33可以同時顯示讀數(shù)和A掃描顯示，極大增強了檢測可靠性。GE USM 33 超聲探傷儀檢測細小晶粒工件和大型工件時，可以優(yōu)化設(shè)置脈沖重復(fù)頻率，以消除幻影波形。 ...
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- 產(chǎn)品介紹
GE USM 33 超聲探傷儀價格貼近中國用戶的通用型超聲波探傷儀。GE USM 33 超聲探傷儀秉承KrautKramer USM系列一貫精巧結(jié)實的設(shè)計風(fēng)格和優(yōu)良可靠的內(nèi)在品質(zhì)，GE USM 33 超聲探傷儀具有中文/英文操作界面，操作直觀簡便。專利彩色半跨距顯示技術(shù)使缺陷定位更容易。GE USM 33 超聲探傷儀采用大容量鋰聚合物安全電池，總重量僅1.8公斤。
GE USM 33探傷儀焊縫檢測
豐富的缺陷位置顯示：聲程、水平距離、深度位置和跨距編號等。
多重DAC曲線間距可單獨調(diào)節(jié)，滿足各種標準要求。
專利的彩色半跨距顯示，跟部缺陷判斷一目了然。
GE USM 33 精密厚度測量
可根據(jù)每一個回波信號的波峰值精準地測量聲程差，分辨率高達0.01mm。
腐蝕壁厚測量
GE USM 33 超聲探傷儀采用雙晶探頭檢測受腐蝕工件的壁厚，可以同時顯示讀數(shù)和A掃描顯示，極大增強了檢測可靠性。
鍛壓件的檢測
檢測細小晶粒工件和大型工件時，可以優(yōu)化設(shè)置脈沖重復(fù)頻率，以消除幻影波形。
GE USM 33 特種材料的檢測
采用低至500kHz的低頻探頭，可穿透高衰減材料和復(fù)合材料。將USM33探傷儀配合BENCHMARK COMPOSITE®復(fù)合材料晶片探頭使用，在對聲散強的材料（玻璃、碳纖維增強塑料、復(fù)合材料或者合金）進行檢測時，性噪比有顯著的提高。
GE超聲波探傷儀USM33技術(shù)參數(shù)
|
檢測范圍 |
最?。?～0.5mm+10%(鋼) 最大：0～9999mm+10%(鋼) 0.5～20MHz自由匹配 1000～15000m/s，1m/s步進連續(xù)可調(diào) -10～1000mm 0～200us 通過兩個已知參考回波自動校準聲速和探頭延遲 200pF/1nF 50Ω、500Ω、1000Ω(在雙晶探頭) 自動優(yōu)化設(shè)置 0～110dB連續(xù)可調(diào) 0.5/1/2/6/12dB RF/全波/正/負半波整流 兩個獨立的閘門，起點和寬度在整個范圍可調(diào)，報警門限為10～90%顯示器高度在1%段內(nèi)可調(diào)節(jié)，報警信號通過LED或蜂鳴器報警器，通過閘門控制波形放大范圍 0～99.99mm時為0.01mm 100～999.9mm時為0.1mm 1000mm以上為1mm，通過A掃描圖像評估:0.5%的調(diào)節(jié)范圍 屏幕高的%比顯示USM33的DAC dB 聲程，距離，深度，閘門內(nèi)放大顯示，用戶自定義4點測量值一行同時顯示，A掃描圖像放大顯示可以自由設(shè)置 手動或自動A掃描，回波可通過包洛線動態(tài)顯示 背景、波形、閘門、曲線和報警數(shù)值 距離-振幅-曲線(DAC)最多10個參考回波，距離通過增益可調(diào)的4條附加曲線， 116x87mm，320x240象素 116mmx80mm，320x220象素 毫米或英寸 200條儀器設(shè)置參數(shù)，能夠存儲A掃描圖像，并能夠調(diào)用或輸出到計算機 通過英文或中文顯示字幕，并通過文件存儲A掃描圖像，測量數(shù)據(jù)和參數(shù)設(shè)置 HP DJ 1200(DeskJet)、HP LJ1012(LaserJet)、EPSON FX/LX、SEIKO DPU 通過RS 232接口跟計算機通訊 可外接顯示器 2xLemo 1或BNC接口 中文、英語 鋰電池，可連續(xù)使用8小時，能夠?qū)崟r顯示鋰電池電池電量狀態(tài) 通過外部供電(85-265V交流)；操作電壓： 6～12V直流；功率: 最大9W，與調(diào)整值有關(guān) 0～60℃ 177mmx230mmx76mm 1.8Kg(包括電池 |
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