涂層測厚儀測量涂層厚度的方法
2012-09-16
涂層測厚儀的測量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等等。這些方法中前五種測量方法均為有損檢測，且測量手段復雜，測算結(jié)果速度慢等缺點，目前多在抽檢活動中使用。
X射線和β射線法是無接觸無損測量，且裝置復雜昂貴，測量范圍較小。同時這類測量方式帶有放射源，使用者必須遵守射線防護規(guī)范。在測量厚度上X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量，電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時采用。
隨著技術(shù)的日益進步，特別是近年來計算機技術(shù)的引入，磁性法和渦流法測量的涂層測厚儀向微型、智能、多功能、高精度、實用化的方向邁進了一步。測量精度有了大幅度的提高，分辨率達到0.1微米，精度達到1%。它適用范圍廣，量程寬、操作簡便且價廉，是工業(yè)和科研使用最廣泛的測厚儀器。
采用無損方法既不破壞覆層也不破壞基材，檢測速度快，能使大量的檢測工作經(jīng)濟地進行，這些優(yōu)點使得具有無損特性的涂層測厚儀得到廣大企業(yè)的熱烈追捧。
X射線和β射線法是無接觸無損測量，且裝置復雜昂貴，測量范圍較小。同時這類測量方式帶有放射源，使用者必須遵守射線防護規(guī)范。在測量厚度上X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量，電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時采用。
隨著技術(shù)的日益進步，特別是近年來計算機技術(shù)的引入，磁性法和渦流法測量的涂層測厚儀向微型、智能、多功能、高精度、實用化的方向邁進了一步。測量精度有了大幅度的提高，分辨率達到0.1微米，精度達到1%。它適用范圍廣，量程寬、操作簡便且價廉，是工業(yè)和科研使用最廣泛的測厚儀器。
采用無損方法既不破壞覆層也不破壞基材，檢測速度快，能使大量的檢測工作經(jīng)濟地進行，這些優(yōu)點使得具有無損特性的涂層測厚儀得到廣大企業(yè)的熱烈追捧。
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