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首頁(yè) > 產(chǎn)品展示 > 其他 > 涂鍍層測(cè)厚儀 >

中紅外光譜橢偏儀 SENDIRA-F (不帶FTIR)

名稱(chēng)：涂鍍層測(cè)厚儀

品牌：

型號(hào)：

簡(jiǎn)介：SENDIRA-F 中紅外光譜橢偏儀(不帶FTIR) 廠商名稱(chēng)： SENTHCH 商品名稱(chēng)：中紅外光譜橢偏儀(不帶FTIR) 商品型號(hào)： SENDIRA-F 簡(jiǎn)單信息：中紅外光譜橢偏儀具有大面積水平樣品臺(tái)，馬達(dá)驅(qū)動(dòng)可變?nèi)肷浣嵌龋С謽悠?..

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SENDIRA-F 中紅外光譜橢偏儀(不帶FTIR)

廠商名稱(chēng)： SENTHCH
商品名稱(chēng)：中紅外光譜橢偏儀(不帶FTIR)
商品型號(hào)： SENDIRA-F
簡(jiǎn)單信息：中紅外光譜橢偏儀具有大面積水平樣品臺(tái)，馬達(dá)驅(qū)動(dòng)可變?nèi)肷浣嵌?，支持樣品水平掃描，吹氮?dú)馊ニ魵獗Ｗo(hù)紅外光學(xué)透鏡。提供新材料如有機(jī)物半導(dǎo)體, OLED和有機(jī)物光譜范圍內(nèi)振動(dòng)光譜的優(yōu)良結(jié)果。提供復(fù)雜多層膜上化學(xué)、機(jī)械、電氣、光學(xué)信息。即可作為研發(fā)工具.