布魯克Bruker NANOSTAR X射線多晶衍射儀
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簡介：當今的材料科學家和工程師已經(jīng)可以在納米尺度了解和改進材料的性質(zhì)。令人興奮的新材料，如設計聚合物與生物陶瓷等正在研制之中，同時液晶、金屬有機物和薄膜涂層等材料的更新和發(fā)展也正因為對它們納米結構的研究和改進而逐步變?yōu)楝F(xiàn)實。小角X射線散射(Sma...
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布魯克Bruker NANOSTAR X射線多晶衍射儀是一種用于納米結構材料的可靠而且經(jīng)濟的無損分析方法當今的材料科學家和工程師已經(jīng)可以在納米尺度了解和改進材料的性質(zhì)。令人興奮的新材料，如設計聚合物與生物陶瓷等正在研制之中，同時液晶、金屬有機物和薄膜涂層等材料的更新和發(fā)展也正因為對它們納米結構的研究和改進而逐步變?yōu)楝F(xiàn)實。。SAXS能夠給出1-100納米范圍內(nèi)的顆粒尺度和尺度分布以及液體、粉末和塊材的形貌和取向分布等方面的信息。
以下是艾克賽普為您介紹布魯克Bruker NANOSTAR X射線多晶衍射儀的技術參數(shù)，如有相關問題，請聯(lián)系長沙艾克賽普儀器儀表公司vntnorcwa.cn，聯(lián)系電話：0731-84284278 84284378。
布魯克Bruker NANOSTAR X射線多晶衍射儀的技術參數(shù)：布魯克Bruker NANOSTAR X射線多晶衍射儀因其光束獨具的高強度、平行初級光束和二維探測器，而與同步輻射SAXS光束具有相似的設計。使用二維探測器避免了零維和一維探測器在數(shù)據(jù)采集時產(chǎn)生的數(shù)據(jù)誤差并除去了對樣品限制性初始假定的必要。事實上，布魯克Bruker NANOSTAR X射線多晶衍射儀可以分析并澄清樣品的性質(zhì)，甚至在樣品顆粒不對稱或表現(xiàn)有擇優(yōu)取向的情況下。另外，通過運行布魯克Bruker NANOSTAR X射線多晶衍射儀可以得到樣品具有µm量級SAXS分辨率的實空間圖像。布魯克Bruker NANOSTAR X射線多晶衍射儀還配置了高強度的X射線源和新型多層光學配件，可以為樣品提供高強類點入射光束。標配的HI-STAR探測器是一種真正意義上的具有光子計數(shù)能力的無噪實時二維探測器。
如果您需要布魯克Bruker NANOSTAR X射線多晶衍射儀及布魯克品牌儀器、或者其他品牌儀器，均可聯(lián)絡我司銷售部門：0731-84284278 84284378。
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