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Keithley吉時(shí)利 圖形化SMU數(shù)字源表2400

名稱:其他儀器與工具

品牌:

型號(hào):

簡(jiǎn)介:Keithley吉時(shí)利 圖形化SMU數(shù)字源表2400系列 SMU 儀器提供四象限精密電壓和電流源/負(fù)載,外加直觀觸摸屏用戶界面上的測(cè)量。這些儀器可同時(shí)提供 10 fA - 10 A 脈沖電流和/或 100nV - 200V 電壓(實(shí)現(xiàn) 10...

  • 產(chǎn)品介紹
Keithley吉時(shí)利 圖形化SMU數(shù)字源表2400系列 SMU 儀器提供四象限精密電壓和電流源/負(fù)載,外加直觀觸摸屏用戶界面上的測(cè)量。這些儀器可同時(shí)提供 10 fA - 10 A 脈沖電流和/或 100nV - 200V 電壓(實(shí)現(xiàn) 1000W 脈沖和 100W 直流總功率)并對(duì)其進(jìn)行測(cè)量,從而使用戶可以 Touch,Test,Invent®(觸摸、測(cè)試、創(chuàng)新)。

Keithley吉時(shí)利 圖形化SMU數(shù)字源表2400專用于要求緊密結(jié)合源和測(cè)量 的測(cè)試應(yīng)用。全部數(shù)字源表型號(hào)都提供精密電壓源和電 流源以及測(cè)量功能。每款數(shù)字源表既是高度穩(wěn)定的直流 電源也是真儀器級(jí)的6位半萬用表。此電源的特性包括 低噪聲、精密和回讀。此萬用表的功能包括可重復(fù)性高 和低噪聲。最終形成了緊湊、單通道、直流參數(shù)測(cè)試儀。 在工作時(shí),這些儀器能用作電壓源、電流源、電壓表、電 流表和歐姆表。通信、半導(dǎo)體、計(jì)算機(jī)、汽車和醫(yī)療行業(yè) 的組件和模塊制造商會(huì)發(fā)現(xiàn)吉時(shí)利數(shù)字源表是適于特 性分析和生產(chǎn)測(cè)試等廣泛應(yīng)用的重要源表。
 

Keithley吉時(shí)利 圖形化SMU數(shù)字源表2400主要特性

  • 集5臺(tái)儀器的功能于一體(IV源、IVR 測(cè)量)
  • 6種模式:20W~100W直流、1000W脈沖、1100V至1μV、10A至10pA
  • 源和阱(4象限)工作
  • 0.012%基礎(chǔ)測(cè)量精度(6位半分辨率)
  • 2線、4線和6線遠(yuǎn)程電壓源和測(cè)量感測(cè)
  • 1700讀數(shù)/秒(4位半分辨率),通過GPIB
  • 通過/失效比較器用于快速排序/分選
  • 提供高速感測(cè)線接觸檢查功能
  • 可編程DIO端口用于自動(dòng)化/處理程序/探針控制
  • 標(biāo)準(zhǔn)SCPI GPIB、RS232和吉時(shí)利觸發(fā)鏈路接口
  • 吉時(shí)利LabTracer 2.0版I-V曲線跟蹤應(yīng)用軟件(下載)

Keithley吉時(shí)利 圖形化SMU數(shù)字源表2400典型應(yīng)用

設(shè)備:

  • 分立半導(dǎo)體器件
  • 無源器件
  • 瞬變抑制器件
  • IC、RFIC、MMIC
  • 激光二極管、激光二極管模塊、LED、光檢測(cè)器
  • 電路保護(hù)器件:TVS、MOV、保險(xiǎn)絲等
  • 氣袋
  • 連接器、開關(guān)、繼電器

測(cè)試:

  • 漏電
  • 低電壓/電阻
  • LIV
  • IDDQ
  • I-V特性分析
  • 隔離和印制線電阻
  • 溫度系數(shù)
  • 正向電壓、反向擊穿、漏電流
  • 直流參數(shù)測(cè)試
  • 直流電源
  • HIPOT
  • 絕緣耐壓測(cè)試序列舉例

型號(hào) 觸摸屏 通道 最大電流源/量程 最大電壓源/量程 測(cè)量分辨率(電流/電壓) 電源
2401 1 1A 20V 1pA / 100nV 20 W
2450 1 1A 200V 10fA/10nV 20 W
2400 1 1A 200V 1pA / 100nV 20 W
2460 1 7A 100V 1pA / 100nV 100 W
2420 1 3A 60V 10pA / 100nV 60 W
2461 1 10A 100V 1pA / 100nV 1000W
2470 Yes 1 1A 1100V 10fA / 100nV 20 W
2410 1 1A 1100V 1pA / 100nV 20 W
2440 No 1 5A 40V 10pA / 100nV 50 W

波形曲線分析解決方案

在 2400 系列圖形化 SMU 上安裝 I-V 記錄器軟件,在功能上替換 Tektronix 576 或 370 等傳統(tǒng)波形記錄器。無需配置掃描或連接到其他軟件,即可快速探尋兩端器件的特征。


制造大功率開關(guān)

5G、汽車和替代能源市場(chǎng)對(duì)更高效高壓半導(dǎo)體的需求促使對(duì) SiC 和 GaN 等新技術(shù)的測(cè)試和研究日益復(fù)雜。您的測(cè)試設(shè)備需要發(fā)展以跟上步伐。

新推出的 2470 SMU 在擊穿電壓、泄漏電流、隔離測(cè)試、耐壓和介電耐壓測(cè)試等測(cè)量方面新增了多項(xiàng)功能,可讓您更快地了解情況。
 

使測(cè)量登上全新高度

SMU 儀器可捕獲更詳細(xì)的設(shè)備行為,并在擴(kuò)展范圍內(nèi)檢定設(shè)備,因此您能更好地了解設(shè)備,提高其質(zhì)量,改善其性能。

特點(diǎn)

  • 6½ 位精確分辨率源和測(cè)量
  • 1 M 個(gè)樣點(diǎn)/秒數(shù)字化測(cè)量速度
  • 電流:10nA - 7A 直流,10A 脈沖
  • 電壓:200mV - 200V
  • 功率:可達(dá) 100W 直流 - 1000W 脈沖

直觀 UI。 智能且快速。

在直觀、多點(diǎn)觸控用戶界面上能測(cè)量、查看和發(fā)現(xiàn)更多細(xì)節(jié),從原始讀數(shù)到直方圖,再到基于時(shí)間和基于電壓/電流的波形,并且能更快速地獲得答案。

特點(diǎn)

  • 五英寸觸摸屏,具有精心設(shè)計(jì)的顏色組合和屏幕布局
  • 簡(jiǎn)單的導(dǎo)航和一級(jí)菜單及設(shè)置
  • 可存儲(chǔ) 2750 萬個(gè)數(shù)據(jù),具有時(shí)間標(biāo)記,全部可在儀器上查看

緊湊集成儀器的優(yōu)點(diǎn)

通過在單臺(tái)裝置中連接源和測(cè)量電路,這些儀器能 提供多種優(yōu)于單獨(dú)的源和測(cè)量?jī)x器構(gòu)建的系統(tǒng)。例如, 它們極大地縮短了測(cè)試站開發(fā),建立和維護(hù)所需的時(shí) 間,同時(shí)降低了購買系統(tǒng)的整體成本。通過去除與使用 多臺(tái)儀器相關(guān)的復(fù)雜同步和連接問題,它們簡(jiǎn)化了測(cè)試 過程本身。而且,緊湊的半機(jī)架尺寸節(jié)省了測(cè)試架或測(cè)試臺(tái)的寶貴“空間”。

集5種儀器功能于一體(IV源、IVR測(cè)量)

源測(cè)量?jī)x器的精密耦合特點(diǎn)相對(duì)分立儀器具有許多優(yōu)點(diǎn)。例如,它具有更短的測(cè)試時(shí) 間,通過減少GPIB的流量并簡(jiǎn)化了遠(yuǎn)程編程接口。它還保護(hù)被測(cè)設(shè)備在偶爾過載、熱失控 等情況下不被損壞。電流源和電壓源都可設(shè)置回讀使器件測(cè)量完整性最大化。如果回讀 達(dá)到可編程容限的極限,那么該源就被鉗位在此極限,從而提供錯(cuò)誤保護(hù)。

I-V特性分析

所有數(shù)字源表均提供4象限工作。工作在第1和第3象限時(shí),作為電源向負(fù)載輸出 功率。工作在第2和第4象限時(shí),作為阱(負(fù)載)吸收能量。在源或阱工作期間都能測(cè) 量電壓、電流和電阻。


自動(dòng)化以提高速度

吉時(shí)利數(shù)字源表提高了生產(chǎn)測(cè)試的效率。它 能在提供電壓源或電流源的同時(shí)進(jìn)行測(cè)量,無需 更改連接,因此適合于在不間斷生產(chǎn)環(huán)境中可靠 地工作。為了提供生產(chǎn)應(yīng)用所需的吞吐率要求, 數(shù)字源表具有許多內(nèi)建功能因而能運(yùn)行復(fù)雜的 測(cè)試序列,無需速度較低的計(jì)算機(jī)控制或GPIB通 信。

標(biāo)準(zhǔn)掃描和定制掃描

掃描方案采用自動(dòng)化鉤子(hook)極大加快 了測(cè)試。三種基本掃描波形可設(shè)置為單事件或連 續(xù)工作,因而非常適于I/V、I/R、V/L和V/R特性分 析。

  • -線性階梯掃描:從起始電平到終止電平使用相等的線性步長(zhǎng)
  • -對(duì)數(shù)階梯掃描:按照每十個(gè)單位指定的步數(shù)按對(duì)數(shù)量比例進(jìn)行掃描
  • -定制掃描:通過指定測(cè)量點(diǎn)的數(shù)量和每個(gè)點(diǎn)的輸出電平,支持設(shè)立專用掃描
  • -達(dá)1700讀數(shù)/秒(4位半分辨率),至GPIB總線
  • -5000個(gè)讀數(shù)可以存儲(chǔ)在非易失緩沖存儲(chǔ)器中

內(nèi)建測(cè)試定序儀(源存儲(chǔ)器列表)

源存儲(chǔ)器列表提供了更快捷、更方便的測(cè)試,您能設(shè)置和執(zhí)行多達(dá)100種不同的測(cè)試并 能實(shí)現(xiàn)無PC干預(yù)的運(yùn)行。

  • -存儲(chǔ)多達(dá)100種儀器配置,每種均包含源設(shè)置、測(cè)量設(shè)置、通過/失效標(biāo)準(zhǔn)等。
  • -通過/失效極限測(cè)試速度達(dá)500μs/測(cè)試點(diǎn)
  • -板上比較器消除了當(dāng)發(fā)送數(shù)據(jù)至計(jì)算機(jī)分析時(shí)產(chǎn)生的延遲
  • -內(nèi)建、用戶定義的數(shù)學(xué)函數(shù)用于計(jì)算推導(dǎo)參數(shù)

測(cè)試

通過/失效測(cè)試

如果測(cè)試通過

如果測(cè)試失敗

測(cè)試 1

檢查VF1在100mA的通過/失效界限

轉(zhuǎn)到測(cè)試2

1. 將器件歸為不合格
2. 當(dāng)處理程序在放置新器件時(shí),將數(shù)據(jù)發(fā)送至計(jì)算機(jī)
3. 返回測(cè)試1

測(cè)試 2

檢查VF2在1A的通過/失效界限

轉(zhuǎn)到測(cè)試3

測(cè)試 3

檢查在-500V的漏電流并測(cè)試通過/失效界限

1. 將器件歸為合格
2. 當(dāng)處理程序放置新器件時(shí),將讀數(shù)發(fā)送至計(jì)算機(jī)
3. 返回測(cè)試1

數(shù)字I/O接口

數(shù)字I/O接口能將數(shù)字源表連接至許多流行的組件處理程序,包 括Aetrium、Aeco和Robotronics。此接口的其它功能包括:

  • 緊湊的系統(tǒng)集成用于分選和排序等應(yīng)用
  • 內(nèi)建組件處理程序接口
  • 測(cè)試開始和測(cè)試結(jié)束信號(hào)
  • 5V、300mA電源
  • 可選擴(kuò)展器附件(2499-DIGIO型)增加16條數(shù)字I/O線
觸發(fā)鏈路接口

全部數(shù)字源表都包含吉時(shí)利專有的觸發(fā)鏈路接口,能與許多吉 時(shí)利許多其它儀器建立高速、無縫的通信。例如,使用觸發(fā)鏈路接口 連接數(shù)字源表和7000系列開關(guān)系統(tǒng)以實(shí)現(xiàn)完整的多點(diǎn)測(cè)試方案。在 獨(dú)立于計(jì)算機(jī)和GPIB的高速測(cè)試序列過程中,通過觸發(fā)鏈路,7000系 列開關(guān)系統(tǒng)可被數(shù)字源表控制。

可選接觸檢查功能

在自動(dòng)測(cè)試序列開始之前,接觸檢查功能可以快捷、容易地驗(yàn) 證是否連接良好。這消除了由于接觸疲勞、破損、玷污、松動(dòng)或連接 中斷、繼電器故障等產(chǎn)生的測(cè)量誤差和不真實(shí)的產(chǎn)品缺陷。此功能 的一些性能如下:

  • 350μs驗(yàn)證和通知處理時(shí)間
  • 數(shù)字源表的輸出在出錯(cuò)之后自動(dòng)關(guān)閉并且直至確認(rèn)接觸良好后再 激活,進(jìn)而保護(hù)被測(cè)器件不被損壞并保護(hù)控制器不受潛在的安全 性威脅。
  • 3個(gè)通過/失效閾值:2Ω、15Ω和50Ω
  • 在工作過程中,沒有能量通過被測(cè)器件
  • 從前面板使能或遠(yuǎn)程通過GPIB使能
  • 3種故障通知方法

6線歐姆電路。因?yàn)榇箅娏鞣雷o(hù)使R2兩端電壓為0V,所以全部測(cè)試電流通過R1。

獨(dú)有的6線電阻測(cè)量方法

數(shù)字源表能進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)4線、分裂Kelvin以及6線、帶防護(hù)的電阻測(cè) 量并且能配置為恒流或恒壓方法。6線測(cè)量方法:

  • 除了4線感測(cè)和源測(cè)試線之外,還使用防護(hù)和防護(hù)感測(cè)線。
  • 鎖定并行電流路徑,當(dāng)測(cè)量電阻排或混合電路隔離被測(cè)元件時(shí)
  • 允許用戶用2400系列源表簡(jiǎn)捷地配置和繪制數(shù)據(jù),從而能輕易實(shí) 現(xiàn)兩臺(tái)、三臺(tái)和四臺(tái)終端器件的特性分析

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