艾克賽普 Chroma 3270 微型 IC 測試分類機(jī)是一款創(chuàng)新的微型 IC 測試分類機(jī),特別適合 CMOS 影像感應(yīng)組件 (CIS : CMOS Image Sensor) 量產(chǎn)所需,艾克賽普 Chroma 3270 微型 IC 測試分類機(jī)可配合多種不同的封裝類型包括傳統(tǒng)的QFP、TQFP、 μBGA、PGA及CSP封裝。艾克賽普 Chroma 3270 微型 IC 測試分類機(jī)采用 Pick & Place 技術(shù),可從JEDEC夾盤來拾取IC,移動到測試位置,然后將測試后產(chǎn)品置于適當(dāng)之 Tray 盤。
艾克賽普 Chroma 3270 微型 IC 測試分類機(jī)能同時(shí)處理32個(gè)待測物進(jìn)行平行測試,并提供50˚C~125˚C高溫測試選擇。不但能提高產(chǎn)量,提升生產(chǎn)良率,同時(shí)大幅降低測試成本。以下是長沙艾克塞普儀器設(shè)備有限公司為您介紹艾克賽普 Chroma 3270 微型 IC 測試分類機(jī)的產(chǎn)品特性,如有疑問或者需要相關(guān)資料,請聯(lián)系長沙艾克賽普儀器設(shè)備有限公司vntnorcwa.cn,可提供樣機(jī)和相關(guān)工程師上門演示溝通,聯(lián)系電話:0731-84284278 84284378。
艾克賽普 Chroma 3270 微型 IC 測試分類機(jī)產(chǎn)品特性:
適合 CMOS 影像感應(yīng)組件量產(chǎn)需求
可靠的高速 Pick&Place 分類機(jī)
3x3 mm 微型 IC 處理能力
浮動頭可有效率平衡測試壓力
自動測試壓力學(xué)習(xí)
IC 殘留檢測功能