日本三和 Sanwa LP1 激光功率計
名稱：光學測試儀器
品牌：
型號：
簡介：日本三和 Sanwa LP1 激光功率計 直讀校正波長可指定 測量波長范圍：400nm-1100nm 廣闊的光電功率檢測范圍:0.01uW-39.99mW 受光探頭采用硅光二極管 本機內(nèi)可放置受光探頭 射束光檢測中便利的最小值/最大值鎖定功...
申請服務
- 產(chǎn)品介紹
日本三和 Sanwa LP1 激光功率計
直讀校正波長可指定
測量波長范圍：400nm-1100nm
廣闊的光電功率檢測范圍:0.01uW-39.99mW
受光探頭采用硅光二極管
本機內(nèi)可放置受光探頭
射束光檢測中便利的最小值/最大值鎖定功能
自動關機(大約30分鐘后)
延長線500MM
校正波長可指定,波長指定范圍:400nm-1100nm
標準型 型號LP1(校正波長:633nm)
波長指定型號LP1-780(校正波長:780nm時)
LP1激光功率表 技術參數(shù)及圖片
4.jpg)
直讀校正波長可指定
測量波長范圍：400nm-1100nm
廣闊的光電功率檢測范圍:0.01uW-39.99mW
受光探頭采用硅光二極管
本機內(nèi)可放置受光探頭
射束光檢測中便利的最小值/最大值鎖定功能
自動關機(大約30分鐘后)
延長線500MM
校正波長可指定,波長指定范圍:400nm-1100nm
標準型 型號LP1(校正波長:633nm)
波長指定型號LP1-780(校正波長:780nm時)
LP1激光功率表 技術參數(shù)及圖片
最新產(chǎn)品
相關產(chǎn)品
