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1550CH-KIT-C25 絕緣電阻測(cè)試儀
名稱：絕緣電阻測(cè)試儀
品牌：
型號(hào)：
簡(jiǎn)介：1550CH-KIT-C25 絕緣電阻測(cè)試儀提供數(shù)字絕緣測(cè)試最高可達(dá)10kV，非常適合用于測(cè)試各種高電壓設(shè)備，包括開(kāi)關(guān)設(shè)備，電動(dòng)機(jī)，發(fā)電機(jī)和電纜。福祿克的絕緣測(cè)試儀現(xiàn)在可以進(jìn)行在IEEE43-2000與一流的，3年保修和CAT IV 600...
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- 產(chǎn)品介紹
1550CH-KIT-C25 絕緣電阻測(cè)試儀提供數(shù)字絕緣測(cè)試最高可達(dá)10kV，非常適合用于測(cè)試各種高電壓設(shè)備，包括開(kāi)關(guān)設(shè)備，電動(dòng)機(jī)，發(fā)電機(jī)和電纜。福祿克的絕緣測(cè)試儀現(xiàn)在可以進(jìn)行在IEEE43-2000與一流的，3年保修和CAT IV 600 V安全等級(jí)規(guī)定的試驗(yàn)電壓的整個(gè)范圍。
1550CH-KIT-C25 絕緣電阻測(cè)試儀的特點(diǎn)：
1550CH-KIT-C25 絕緣電阻測(cè)試儀可以測(cè)試電壓高達(dá) 10 kV，適合所有應(yīng)用；
1550CH-KIT-C25 絕緣電阻測(cè)試儀的安全等級(jí)高CAT III 1000 V, CAT IV 600 V 安全等級(jí) ；
1550CH-KIT-C25 絕緣電阻測(cè)試儀在電壓擊穿檢測(cè)功能可提醒用戶存在電壓，并給出最高 600 V（交流或直流）的電壓讀數(shù)，提高了用戶安全性；
1550CH-KIT-C25 絕緣電阻測(cè)試儀在 250 - 1000 V 范圍內(nèi)，可以 50 V 步長(zhǎng)選擇測(cè)試電壓；高于 1000 V 時(shí)，可以 100 V 步長(zhǎng)選擇測(cè)試電壓；
1550CH-KIT-C25 絕緣電阻測(cè)試儀可在多達(dá) 99 個(gè)存儲(chǔ)位置存儲(chǔ)測(cè)量值，每個(gè)位置可分配一個(gè)唯一的用戶定義標(biāo)簽，以便調(diào)用；
1550CH-KIT-C25 絕緣電阻測(cè)試儀的電池壽命長(zhǎng)，兩次充電之間可進(jìn)行 750 次以上測(cè)試；
1550CH-KIT-C25 絕緣電阻測(cè)試儀可以自動(dòng)計(jì)算介質(zhì)吸收比 (DAR) 和極化指數(shù) (PI)，無(wú)需其他設(shè)置；
1550CH-KIT-C25 絕緣電阻測(cè)試儀的保護(hù)系統(tǒng)可消除高阻測(cè)量時(shí)表面泄漏電流的影響；
1550CH-KIT-C25 絕緣電阻測(cè)試儀可進(jìn)行電容和泄漏電流測(cè)量；
1550CH-KIT-C25 絕緣電阻測(cè)試儀具有用于擊穿測(cè)試的斜坡功能；
1550CH-KIT-C25 絕緣電阻測(cè)試儀可測(cè)量高達(dá) 2TΩ 的電阻；
定時(shí)測(cè)試時(shí)，可進(jìn)行最長(zhǎng) 99 分鐘的定時(shí)器設(shè)置；
1550CH-KIT-C25 絕緣電阻測(cè)試儀的特點(diǎn)：
1550CH-KIT-C25 絕緣電阻測(cè)試儀可以測(cè)試電壓高達(dá) 10 kV，適合所有應(yīng)用；
1550CH-KIT-C25 絕緣電阻測(cè)試儀的安全等級(jí)高CAT III 1000 V, CAT IV 600 V 安全等級(jí) ；
1550CH-KIT-C25 絕緣電阻測(cè)試儀在電壓擊穿檢測(cè)功能可提醒用戶存在電壓，并給出最高 600 V（交流或直流）的電壓讀數(shù)，提高了用戶安全性；
1550CH-KIT-C25 絕緣電阻測(cè)試儀在 250 - 1000 V 范圍內(nèi)，可以 50 V 步長(zhǎng)選擇測(cè)試電壓；高于 1000 V 時(shí)，可以 100 V 步長(zhǎng)選擇測(cè)試電壓；
1550CH-KIT-C25 絕緣電阻測(cè)試儀可在多達(dá) 99 個(gè)存儲(chǔ)位置存儲(chǔ)測(cè)量值，每個(gè)位置可分配一個(gè)唯一的用戶定義標(biāo)簽，以便調(diào)用；
1550CH-KIT-C25 絕緣電阻測(cè)試儀的電池壽命長(zhǎng)，兩次充電之間可進(jìn)行 750 次以上測(cè)試；
1550CH-KIT-C25 絕緣電阻測(cè)試儀可以自動(dòng)計(jì)算介質(zhì)吸收比 (DAR) 和極化指數(shù) (PI)，無(wú)需其他設(shè)置；
1550CH-KIT-C25 絕緣電阻測(cè)試儀的保護(hù)系統(tǒng)可消除高阻測(cè)量時(shí)表面泄漏電流的影響；
1550CH-KIT-C25 絕緣電阻測(cè)試儀可進(jìn)行電容和泄漏電流測(cè)量；
1550CH-KIT-C25 絕緣電阻測(cè)試儀具有用于擊穿測(cè)試的斜坡功能；
1550CH-KIT-C25 絕緣電阻測(cè)試儀可測(cè)量高達(dá) 2TΩ 的電阻；
定時(shí)測(cè)試時(shí)，可進(jìn)行最長(zhǎng) 99 分鐘的定時(shí)器設(shè)置；
| 絕緣電阻測(cè)量 | ||
| 測(cè)試電壓（直流） | 量程（直流） | 準(zhǔn)確度（± 讀數(shù)） |
| < 200 kΩ | 未規(guī)定 | |
| 200 kΩ 至 5 GΩ | 0.05 | |
| 5 GΩ 至 50 GΩ | 0.2 | |
| > 50 GΩ | 未規(guī)定 | |
| 200 kΩ | 未規(guī)定 | |
| 200 kΩ 至 10 GΩ | 0.05 | |
| 10 GΩ 至 100 GΩ | 0.2 | |
| > 100 GΩ | 未規(guī)定 | |
| < 200 kΩ | 未規(guī)定 | |
| 200 kΩ 至 20 GΩ | 0.05 | |
| 20 GΩ 至 200 GΩ | 0.2 | |
| > 200 GΩ | 未規(guī)定 | |
| < 200 kΩ | 未規(guī)定 | |
| 50 GΩ 至 500 GΩ | 0.2 | |
| > 500 GΩ | 未規(guī)定 | |
| 5000 V | < 200 kΩ | 未規(guī)定 |
| 200 kΩ 至 100 GΩ | 0.05 | |
| 100 GΩ 至 1 TΩ | 0.2 | |
| > 1 TΩ | 未規(guī)定 | |
| 10000 V | < 200 kΩ | 未規(guī)定 |
| 200 kΩ 至 200 GΩ | 0.05 | |
| 10 GΩ 至 2 TΩ | 0.2 | |
| > 2 TΩ | 未規(guī)定 | |
| 條形圖范圍 | 0 至 1 TΩ | |
| -0 %, +10 %，在 1 mA 負(fù)載電流下 | ||
| 感應(yīng)交流電流抑制 | 2 mA 最大值 | |
| 5s/μF | ||
| 容性負(fù)載放電速率 | ||
| Leakage current measurement | 范圍: 1 nA 至 2 mA | 準(zhǔn)確度: ± (5 % + 2 nA) |
| 范圍: 0.01 uF 至 15.00 μF | 準(zhǔn)確度: ± (15 % 讀數(shù) + 0.03 μF) | |
| 定時(shí)器 | 范圍: 0 - 99 分鐘 | 分辨率準(zhǔn)確度: |
| 設(shè)置: 1 分鐘 | ||
| 提示: 1 s | ||
| 警告范圍: | 電壓準(zhǔn)確度: | |
| 30 V 至 660 V ac/dc, | ± (15 % + 2 V) | |
| 50/60 Hz |
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