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金屬探測(cè)和X射線探測(cè)

金屬探測(cè)和X射線探測(cè)

在線污染物檢測(cè)市場(chǎng)持續(xù)增長(zhǎng)，包括金屬探測(cè)和成本較高的X射線探測(cè)。同時(shí)，X射線探測(cè)和視覺(jué)系統(tǒng)提供的表面檢查也在更加廣闊的質(zhì)量控制領(lǐng)域占有了重要地位。 最近，X射線系統(tǒng)引起了廣泛關(guān)注，主要在於X射線具有檢查包裝內(nèi)物品缺損或破裂的能力，同時(shí)，也在於其具有探測(cè)

2012-12-12

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機(jī)器人-激光復(fù)合加工技術(shù)

機(jī)器人-激光復(fù)合加工技術(shù)

在汽車(chē)工業(yè)中，人們一直將機(jī)器人與激光技術(shù)結(jié)合在一起，進(jìn)行3D的汽車(chē)零部件生產(chǎn)加工。由Fanuc和Reis公司合作提供的機(jī)器人-激光復(fù)合加工技術(shù)，可以進(jìn)一步地?cái)U(kuò)大機(jī)器人-激光技術(shù)的應(yīng)用市

2012-12-12

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新型PXI模塊化儀器

新型PXI模塊化儀器

PXI是一種專(zhuān)為工業(yè)數(shù)據(jù)采集與自動(dòng)化應(yīng)用度身定制的模塊化儀器平臺(tái)，具備機(jī)械、電氣與軟件等多方面的專(zhuān)業(yè)特性。PXI(PCI extensions for instrumentation)充分利用了當(dāng)前最普及的臺(tái)式計(jì)算機(jī)高速標(biāo)準(zhǔn)結(jié)構(gòu) PCI。PXI規(guī)范是CompactPCI (PCI是一種堅(jiān)固的模塊化結(jié)構(gòu)，結(jié)合了PC

2012-12-12

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合理選擇液位計(jì)

合理選擇液位計(jì)

和其他行業(yè)一樣，制藥業(yè)也越來(lái)越要求更高的生產(chǎn)力和更可靠的 儀器 。在需要用到連續(xù)液位計(jì)的時(shí)候，制藥商更愿意選用準(zhǔn)確度高而無(wú)需經(jīng)常校準(zhǔn)的全固態(tài)，非機(jī)械設(shè)備，這樣即便儀器失靈也不會(huì)耽誤生產(chǎn)的正常運(yùn)行或?qū)е抡诩庸ぶ械脑系膱?bào)廢。 這兩種情況下，決定因

2012-12-12

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金屬加工形位誤差測(cè)量設(shè)備概述

金屬加工形位誤差測(cè)量設(shè)備概述

本文所述的設(shè)備、 儀器 、系統(tǒng)主要用于對(duì)金屬加工件的形位誤差幾何量測(cè)量。隨著計(jì)算機(jī)、激光技術(shù)、電子學(xué)技術(shù)的發(fā)展和各種高技術(shù)多學(xué)科的相互滲透，它們由傳統(tǒng)的機(jī)械式、氣動(dòng)式、電子式發(fā)展到光、機(jī)、電一體化的綜合式，由加工后測(cè)量發(fā)展到在線監(jiān)控測(cè)量，由接觸式測(cè)量

2012-12-12

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激光束表面改性技術(shù)

激光束表面改性技術(shù)

激光束和電子束都可提供高能量的直接熱源，并應(yīng)用在許多表面改性技術(shù)中。由輸入功率所決定的高能束可被用于切割與焊接、表面熔融與合金配制、以及局部熱處理上。 焊接和切割要求功率最大、激光束和電子束的聚焦能力最強(qiáng)，這樣才可實(shí)現(xiàn)既深又窄的高質(zhì)量焊縫或切縫。隨

2012-12-12

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X光異物檢測(cè)系統(tǒng)的檢測(cè)原理及優(yōu)勢(shì)

X光異物檢測(cè)系統(tǒng)的檢測(cè)原理及優(yōu)勢(shì)

Ｘ光異物檢測(cè)系統(tǒng) 是一種根據(jù)Ｘ光在不同物質(zhì)材料上的穿透能力（或者說(shuō)不同物質(zhì)具有對(duì)Ｘ光不同的吸收能力）的原理研制，通過(guò)圖像處理方法檢測(cè)物品中是否含有不同于產(chǎn)品本身物質(zhì)材料的異物。這種檢測(cè)設(shè)備目前在食品領(lǐng)域應(yīng)用較多。 和金屬檢測(cè)機(jī)的檢測(cè)能力相比較，Ｘ光

2012-12-12

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指針式萬(wàn)用表與數(shù)字萬(wàn)用表的不同之處

指針式萬(wàn)用表與數(shù)字萬(wàn)用表的不同之處

指針萬(wàn)用表是一種平均值式儀表.它具有直觀.形象的讀數(shù)指示. (一般讀數(shù)值與指針擺動(dòng)角度密切相關(guān),所以很直觀). 數(shù)字 萬(wàn)用表 是瞬時(shí)取樣式儀表.它采用0.3秒取一次樣來(lái)顯示測(cè)量結(jié)果.有時(shí)每次取樣結(jié)果只是十分相近.并不完全相同.這對(duì)于讀取結(jié)果就不如指針式方便. 指針式萬(wàn)

2012-12-11

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